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介電常數介質損耗實驗原理與核心測量方法

更新時間:2025-07-11      點擊次數:69

介電常數介質損耗實驗原理與核心測量方法

1. 基本原理

· 介電常數:表征材料在電場中儲存電能的能力,定義為材料電容(C)與真空電容(C?)的比值,即 ε = C/C?。在交變電場中,介電常數通常表示為復數形式 *ε = ε' - jε''**,其中實部 ε' 為靜態介電常數,虛部 ε'' 與介質損耗相關。

· 介質損耗:反映材料在電場中因極化弛豫、電導等機制產生的能量損耗,定義為 tanδ = ε''/ε',對應功率因數的正切值。

2. 主流測量方法

· 電容法(常用):通過測量樣品電容(C)和等效并聯電阻(Rp),計算得到:
ε' = C·d/(A·ε?)tanδ = 1/(2πf·C·Rp)
d 為樣品厚度,A 為電極面積,f 為測量頻率)。

· 阻抗分析法:利用阻抗分析儀(如 Keysight E4990A、Concept 80 等)直接測量復數阻抗(Z*)或導納(Y*),覆蓋 10?2 Hz~10? Hz 寬頻范圍。

· 諧振法:適用于高頻(微波段)測量,通過樣品對諧振腔頻率和品質因數的影響計算介電參數。

· 電橋法:傳統低頻測量(如西林電橋),適合低損耗材料的高精度測量。


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